植物根系X射线扫描成像分析系统是一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统，用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析，可以拍摄根系的立体X射线照片。

这套系统是植物根系研究领域继根视（rhizotron）系统（如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系统）后最激动人心的发明。根视系统需要将根取出清洗后，借助扫描仪进行分析，这个过程往往会折断植物的根尖等脆弱部分，而且属于离体分析，不能进行动态监测。而植物根系X射线扫描成像分析系统是非破坏性的原位分析系统，可以全方位分析植物根系所有部分（包括根尖等），并且可以在植物生长的不同阶段对根系的生长进行长期动态监测。这套系统非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应，最大可对株高2.0m，根系深达1.0 m的植株进行分析。

主要功能

Ø 原位、非破坏的研究植物根系

Ø 全方位分析植物根系所有部分

Ø 长期监测植物根系的生长动态

Ø 大容量、高效率、高精度的获取根系信息

Ø 大批量快速筛选根系突变株

Ø 完全可控条件下根系的生理、病理研究

Ø 植物茎秆的无损检测

Ø 植物种子的无损检测

植物根系X射线扫描成像分析系统.pdf

详细需求请来电咨询。